Карточка сотрудника
Шевелев Алексей Эдуардович
Образование
Исследователь. Преподаватель-исследователь
Физика и астрономия
Томский политехнический университет
Инженер-физик
Физика атомного ядра и частиц
Томский политехнический университет
Повышение квалификации
Современные требования к эксплуатации и безопасности источников, генерирующих ионизирующее излучение
Национальный исследовательский Томский политехнический университет ФГАОУ ВО
Подготовка работников, занятых выполнением работ в электроустановках
Национальный исследовательский Томский политехнический университет ФГАОУ ВО
Охрана труда руководящих работников и специалистов организаций
Дальневосточный институт дополнительного профессионального образования
Инженерная педагогика
Национальный исследовательский Томский политехнический университет ФГАОУ ВО
Реализация образовательной программы в условиях развития электронной информационно-образовательной среды ВУЗа
Национальный исследовательский Томский политехнический университет ФГАОУ ВО
Международная научная школа-семинар для молодежи "Пучки частиц, плазма, нейтроны, фотоны: генерация и применение
Национальный исследовательский Томский политехнический университет ФГАОУ ВО
Публикации
- Formation, Focusing and Transport of Highintensity, Low-Energy Metal Ion Beams / A. I. Ryabchikov, A. E. Shevelev, D. O. Sivin [et al.] // Russian Physics Journal . — 2021 . — Vol. 63, iss. 10 . — [P. 1700-1712] . — Title screen. — [References: 47 tit.]. — Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса..
Подробнее → - Сыртанов, Максим Сергеевич. Высокотемпературное окисление циркониевоевого сплава Э110 с имплантированным слоем титана / М. С. Сыртанов, Е. Б. Кашкаров, А. Э. Шевелев // Физико-технические проблемы в науке, промышленности и медицине. Российский и международный опыт подготовки кадров сборник научных трудов X Международной научно-практической конференции, г. Томск, 09 – 11 сентября 2020 г.: / Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа ядерных технологий ; Российский фонд фундаментальных исследований ; ред. кол. И. В. Шаманин, В. П. Кривобоков, А. Г. Горюнов, В. А. Карелин . — Томск : Ветер , 2020 . — [С. 48] . — Заглавие с экрана. — [Библиогр.: с. 48 (4 назв.)]..
Подробнее → - High-intensity chromium ion implantation into Zr-1Nb alloy / A. I. Ryabchikov [et al.] // Surface and Coatings Technology . — 2020 . — Vol. 383 . — [125272, 6 p.] . — Title screen. — [References: 39 tit.]. — Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса..
Подробнее → - Formation of repetitively pulsed high-intensity, low-energy silicon ion beams / A. I. Ryabchikov, D. O. Sivin, S. V. Dektyarev, A. E. Shevelev // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment . — 2020 . — Vol. 953 . — [163092, 9 р.] . — Title screen. — [References: 40 tit.]. — Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса..
Подробнее → - Formation of high-intensity axially symmetric and ribbon beams of low-energy metal ions / A. I. Ryabchikov, D. O. Sivin, A. E. Shevelev, G. S. Modebadze // Review of Scientific Instruments . — 2020 . — Vol. 91, iss. 1 . — [013301, 5 p.] . — Title screen. — [References: 15 tit.]. — Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса..
Подробнее →